飛納臺式掃描電鏡不僅有用杰出的硬件和精巧的設計,采用高亮度、強信號、壽命為1500h的CeB6燈絲,集成彩色光學顯微鏡用于彩色導航,配合原裝全自動馬達樣品臺使用,點擊哪里,看到哪里,設計緊湊,*防震;更有強大的軟件拓展功能,飛納電鏡顆粒統計分析測量系統,飛納電鏡纖維統計分析測量系統,飛納電鏡孔徑統計分析測量系統,飛納電鏡3D粗糙度重建,高倍超大視野全景拼圖,遠程聯網檢測等。為交流國內外顆粒學研究與技術的進展,每兩年一屆的“中國顆粒學會學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會”于2016年8月12-14日(8月12日報到)在四川省成都市舉辦,會期2天。本屆會議由中國顆粒學會主辦,中國顆粒學會超微顆粒專委會協辦。飛納臺式掃描電鏡贊助并出席中國顆粒學會第九屆學術年會。
飛納臺式掃描電鏡顆粒統計分析測量系統自動識別統計顆粒
客戶現場參觀試用飛納臺式掃描電鏡
飛納臺式掃描電鏡放大倍數13萬倍,分辨率突破10nm,使用的CeB6燈絲可以顯著提升掃描電鏡的成像質量,優異的硬件為飛納電鏡的軟件開發打下了堅實的基礎。飛納電鏡顆粒測量系統(PhenomParticleMetric)是基于飛納臺式掃描電鏡的顆粒分析系統,用于實現顆粒可視化分析,由飛納電鏡的制造商荷蘭Phenom-World公司歷經三年研發,于2013年11月1日在荷蘭發布,目前仍不斷更新升級,飛納電鏡對所用用戶所使用的軟件升級都是免費的。
飛納電鏡顆粒系統適用的領域有化妝品,食品,化工,制藥,陶瓷等行業;顆粒狀狀添加劑;環境顆粒;過濾、篩網等。可對100nm~0.1mm尺寸范圍內的顆粒進行分析,顆粒探測速度高達1000個/分鐘,測量顆粒的大小,形狀,數量等屬性。給出顆粒眾多的參數值,例如面積,當量直徑,外接圓直徑,比表面積,周長,寬高比,表面積,充實度,伸長率,灰度等級,長軸長度和短軸長度,凸殼體,重心,像素點數,凸狀物。并根據實際需要生散點統計圖和柱狀統計圖。
中國顆粒學會第九屆學術年會代表證