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為什么掃描電鏡(SEM)是適合纖維分析的檢測設(shè)備

 更新時(shí)間:2018-10-11 點(diǎn)擊量:6455

纖維無處不在。生活中存在不同類型的纖維,但在大多數(shù)情況下不會注意到它們,因?yàn)槔w維被應(yīng)用在產(chǎn)品中。如果一個(gè)物體長度遠(yuǎn)大于其寬度,認(rèn)為它是纖維。纖維對所使用的產(chǎn)品的性能有著重要的影響。這篇博客將描述這些纖維的不同分類方式以及如何更好地分析它們的性能。

 

提示:將纖維放在特定的顯微鏡下。您會發(fā)現(xiàn)適合纖維分析的方法,請繼續(xù)閱讀!

 

纖維顯微鑒定與分類

 

如果在網(wǎng)上搜索“纖維”這個(gè)詞,會發(fā)現(xiàn)纖維可以分為天然纖維和工程纖維。在這篇文章中,將重點(diǎn)關(guān)注工程織物,特別是無紡布。

 

無紡布

 

· 工程纖維
· 具有特定結(jié)構(gòu)和特定性質(zhì)
· 采用率和低成本的生產(chǎn)工藝
· 基于紡織品、紙張和塑料的制造技術(shù)

 

紙尿褲、餐巾紙、空氣過濾器、液壓過濾器、建筑產(chǎn)品等都含有無紡布。這些產(chǎn)品中的纖維被稱為納米纖維,因?yàn)槠渲睆?< 1µm。為什么它們這么小?因?yàn)榭梢詣?chuàng)造更率的產(chǎn)品,如更好的空氣過濾,吸水,和改善產(chǎn)品壽命等。

 

在這個(gè)過程中關(guān)鍵是要了解無紡布的性能,以便能夠優(yōu)化產(chǎn)品。

 

改變無紡布的結(jié)構(gòu)需要纖維分析設(shè)備來檢測或測試材料的性能。這可以是:

 

· 化學(xué)分析-發(fā)射-吸收光譜法,XRF, XPS
· 機(jī)械測試-拉伸、磨損、穿刺
· 顯微鏡-光學(xué),掃描電鏡(SEM),AFM

 

用于纖維分析的電子顯微鏡技術(shù)

 

例如,顯微技術(shù)對于評估過濾器的性能是*的。有不同的方法來獲得纖維的微觀視圖。近幾十年來,光學(xué)檢測一直是行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。然而,受光學(xué)顯微鏡的分辨率的限制,光學(xué)檢測已無法滿足許多新應(yīng)用。

 

原子力顯微鏡是一種可以在微米范圍內(nèi)使用的技術(shù),但它是一個(gè)非常緩慢的過程,可能會引起物理探測問題。

 

所以,得到的好的纖維顯微分析方法是什么?建議使用飛納臺式掃描電鏡(SEM)

 

纖維的顯微鏡觀察:掃描電子顯微鏡(SEM)

 

由于掃描電鏡(SEM)具有較高的景深和對比度,使其成為表征過濾材料的新標(biāo)準(zhǔn)。掃描電鏡(SEM)為過濾材料分析提供了一個(gè)快速和高分辨率的分析方法。通過集成于電鏡內(nèi)部的特征X射線能譜儀(EDS)鑒定纖維或微粒的元素。

 

 

 

飛納電鏡-纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)

 

結(jié)合飛納臺式掃描電子顯微鏡,纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)可以使用戶獲得微米、納米纖維的尺寸信息。從紡粘型纖維到電紡纖維、再到熔噴纖維,纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)可以測量和分析各種各樣的復(fù)雜纖維結(jié)構(gòu)。

 

纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)的自動圖像表征功能可以在幾秒內(nèi)完成數(shù)百次測量,提供更加的數(shù)據(jù)。與以往耗時(shí)費(fèi)力且度難以保證的手動測量相比,纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)將為用戶節(jié)省大量時(shí)間、精力,并且可以測量和分析樣品纖維直徑的差異。自動化操作和纖維大小的分析得到了用戶的廣泛青睞。

 

纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)采集數(shù)以百計(jì)的數(shù)據(jù)點(diǎn),提供可靠的統(tǒng)計(jì)信息,并繪制纖維尺寸分布柱狀統(tǒng)計(jì)圖。所有數(shù)據(jù)均可以標(biāo)準(zhǔn)格式導(dǎo)出,以便用戶進(jìn)行進(jìn)一步分析。

 

 

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